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良率管理系統
產品概覽
工廠管理的工程數據分析系統
幫助用戶用更高、更全面的視角、更專業的模型、準確的解決數據分析中的問題
基於半導體工廠的生產、設備、廠務、質量等運營過程數據
運用統計方法和模型進行整合
多年積累的客戶實施經驗
增加新的系統特性和增強模塊
智能工具與豐富應用場景
功能特點
01
— 模塊一 —
數據管理及BI模塊
02
— 模塊二 —
標準統計模型和圖標模板
03
— 模塊三 —
基於業務層的數據整合管理和分析
04
— 模塊四 —
定製化分析模型模板,與FDC,ADC系統整合等
優勢效果
面板行業定製化全廠良率趨勢模板
半導體CP良率與Defect Map Overlay管理
半導體CP良率與Defect Map Overlay管理
解決方案
半導體封測智能製造方案
半導體封測智能製造方案(國內前10封測大廠案例)
智能遠程集控中心
節約人力30%以上 人員效率提升80% 設備效率提升3%~5%
進一步瞭解
Glorysoft-YMS產品白皮書
2021.03.04
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